如何通过粉末 X 射线衍射测定晶体结构？
2023-06-28 阅读 28
通过粉末X射线衍射测定晶体结构的步骤如下：
1. 实验准备：首先需要准备晶体的粉末样品，将其细碎成粉末状。然后将样品放置在一个均匀的样品台上。
2. 实验装置：使用X射线衍射仪进行实验。X射线衍射仪由X射线源、样品台、探测器和数据采集系统组成。
3. 实验操作：将X射线源对准样品，发射X射线束照射到样品上。当X射线束通过晶体样品时，会发生衍射现象。衍射的X射线会被探测器捕捉到。
4. 数据采集：探测器会将捕捉到的衍射X射线信号转化为电信号，并传输给数据采集系统。数据采集系统会记录下衍射信号的强度和角度。
5. 数据分析：通过对衍射信号的强度和角度进行分析，可以得到晶体的衍射图样。根据衍射图样中的衍射峰的位置和强度，可以确定晶体的晶胞参数、晶体结构和晶体的空间群。
需要注意的是，粉末X射线衍射测定晶体结构是一种间接的方法，需要进行精确的数据分析和解释。通常需要借助计算机软件进行模拟和拟合，以得到准确的晶体结构信息。
更新于 2023年07月02日
