在 AFM 扫描中，为什么需要保持针尖与样品距离不超过 20nm？
2023-06-26 阅读 20
在AFM（原子力显微镜）扫描中，保持针尖与样品的距离不超过20nm是为了确保扫描的准确性和避免损坏样品。
首先，AFM是一种基于原子力的显微镜技术，通过测量针尖与样品表面之间的相互作用力来获取样品表面的形貌信息。当针尖与样品之间的距离较小时，相互作用力更强，可以更准确地测量样品表面的微观结构。
其次，保持针尖与样品的距离不超过20nm还可以避免损坏样品。如果针尖与样品的距离过大，扫描过程中可能会发生针尖碰撞样品表面的情况，导致样品表面的损伤甚至破坏。因此，保持适当的扫描距离可以确保样品的完整性和可靠的测量结果。
总之，保持针尖与样品的距离不超过20nm是为了保证AFM扫描的准确性和避免样品的损坏。
更新于 2023年06月30日
