如何测试半导体激光器出光1cm处的相位分布？
2023-06-24 阅读 39
测试半导体激光器出光1cm处的相位分布需要使用干涉仪。具体测试步骤如下：
1. 将半导体激光器的出光端口对准干涉仪的分束器，使光线垂直于分束器表面。
2. 调整干涉仪的光程差，使得两束光在1cm处相遇。
3. 在干涉仪的接收屏幕上观察干涉条纹，可以通过调整干涉仪的光程差，使干涉条纹清晰。
4. 根据干涉条纹的形状和间距，可以得到出光1cm处的相位分布信息。
需要注意的是，干涉仪的使用需要一定的专业知识和技能，操作时应注意安全。
更新于 2023年06月24日
