如何测试半导体激光器出光1cm处的相位分布？
2023-06-24 阅读 60
测试半导体激光器出光1cm处的相位分布需要使用干涉仪。具体测试步骤如下：
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将半导体激光器的出光端口对准干涉仪的分束器，使光线垂直于分束器表面。
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调整干涉仪的光程差，使得两束光在1cm处相遇。
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在干涉仪的接收屏幕上观察干涉条纹，可以通过调整干涉仪的光程差，使干涉条纹清晰。
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根据干涉条纹的形状和间距，可以得到出光1cm处的相位分布信息。
需要注意的是，干涉仪的使用需要一定的专业知识和技能，操作时应注意安全。
更新于 2023年06月24日
