如何利用 ob 间因入射波与反射波干涉的静止点来测量某些物理量？
2024-02-15 阅读 17
利用 ob 间因入射波与反射波干涉的静止点来测量某些物理量的方法通常是通过干涉条纹的移动来推断某些物理量的变化。在实际应用中，可以通过调节入射波的入射角度或者改变反射体的位置，从而导致干涉条纹的移动。通过测量干涉条纹移动的距离或者计算干涉条纹的数量变化，可以推断出与入射波和反射波干涉相关的物理量的变化，比如反射体的位移、介质的折射率等。
这种方法常用于光学干涉测量、表面形貌测量、薄膜厚度测量等领域。通过精确测量干涉条纹的移动，可以间接地获得一些难以直接测量的物理量，为科学研究和工程应用提供了重要的手段。
更新于 2024年04月13日
